電子顕微鏡による高分子材料の観察と解析
目次
第1章 高分子材料の観察に用いられる電子顕微鏡とは(走査電子顕微鏡(SEM)
集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB‐SEM)
透過電子顕微鏡(TEM) ほか)
第2章 高分子材料とは(高分子材料とはなにか;高分子材料にはどのような種類があるのか;高分子材料の構造とはなにか ほか)
第3章 高分子材料の観察事例(担当:加藤)(ポリプロピレン(PP)単結晶凝集体
ポリエチレン(PE)ペレットのラメラ
疎水性ナノセルロース(CNF)配合PEのラメラ ほか)
著者等紹介
加藤淳[カトウアツシ]
1954年山形県に生まれる。1985年東北大学大学院理学研究科博士課程修了(理学博士)。1985年出光石油化学(株)入社。1989年日産自動車(株)入社。1998年(株)日産アーク出向。2005年京都大学化学研究所客員助教授。2006年長岡技術科学大学非常勤講師。2006年山梨大学工学部非常勤講師。2009年マテリアルライフ学会総説賞受賞。2012年日本ゴム協会第50回技術有効賞受賞。2016年京都工芸繊維大学ゴム科学研究センターシニア・フェロー。現在、株式会社日産アーク現象解析部シニア・エンジニア。専門は高分子材料の分析、解析
荒木祥和[アラキサワ]
1975年神奈川県に生まれる。1998年慶応義塾大学理工学部応用化学科卒業。1998年株式会社日産アーク入社。現在、機能解析部構造・反応解析室室長。専門は表面・界面に関わる反応解析(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)